Streetwise

Plataforma Streetwise estende a capacidade de expor marginalidades dispositivo bem além dessas metodologias tradicionais PAT, e com mais confiança, através da aplicação abrangente de single Variant, multivariada (NNR, regressão), espacial, e métodos de análise compostos aplicados em ambientes de fabricação de fluxo de dados único ou múltiplo.

A granularidade de análise aumentada Streetwise expõe de forma dramática amplia a oportunidade de empregar avançadas estratégias de teste adaptativas de avanço de próxima geração, conforme descrito no mais recente roteiro de tecnologia internacional para semicondutores. A indústria reconheceu que as estratégias de teste adaptável referenciadas são exigidas como o custo de fabricação do dispositivo do semicondutor e as demandas da qualidade continuam a conduzir o mercado para a frente.

 A análise Streetwise identifica exclusivamente a variabilidade de desempenho do dispositivo que expõe marginalidades de desempenho em uma base por morrer para a próxima etapa de processo ou decisão de disposição.

Streetwise integra exclusivamente a análise geográfica abrangente com análise paramétrica dada a combinação de tipos de análise são considerados fundamentais para alcançar uma alta eficiência e efetividade para decisões de disposição do dispositivo.

 A arquitetura de análise Streetwise aproveita seus métodos inovadores de análise paramétrica, a fim de expor marginalidades baseadas geográfica que expõem não apenas defeitos relacionados com a morte, mas confirmam o processo ou defeitos relacionados sistemáticos dentro da identificação regiões geográficas da bolacha. Uma outra compreensão fundamental da análise geográfica é conseguida com a análise empilhada ou composta do nível.